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安捷倫科技（中國）有限公司
高靈敏度是質譜儀非常廣泛的技術性能要求。與儀器的質量精度相比，一個經常被忽視的領域，是飛行時間高分辨質譜較低占空比從而使系統靈敏度降低。基于SCIEX ZenoTOF? 7600系統的Zeno? trap（Zeno 阱），使得進行MS/MS掃描時，在全質量范圍內提升占空比好于90%。這可以等同于系統的靈敏度提升了4-20倍。更重要的是，這樣的提升沒有犧牲任何關于其它系統性能。
本白皮書概述了高靈敏度的重要性和儀器性能規格對于高水平定量的重要性。實例表明Zeno? trap（Zeno阱）對于降低定量限（LOQ）的能力，降低所需樣本量并賦能復雜基質中的定量分析方法，和那些因為靈敏度的問題極大地阻礙分析方法的發展的情況
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