儀器簡介APD 2000 PRO 為定性和定量的粉末X射線衍射儀。精確電路控制反饋系統(tǒng)，保證X 射線發(fā)生器更加穩(wěn)定；預(yù)設(shè)高壓和激發(fā)電流，并可實現(xiàn)自動斜坡程度上升；細焦點的陶瓷X 射線管具有優(yōu)良的重現(xiàn)性和穩(wěn)定性；采用高聚...

儀器簡介EXPLORER 在眾多分析領(lǐng)域都可發(fā)揮優(yōu)良的性能，例如可以測量混合物質(zhì)的相態(tài)；檢測微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì)，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等。其模塊化設(shè)計，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器...

儀器簡介EDGE 是一款便攜式殘余應(yīng)力分析儀，符合 ASTM E915 及 EN 15305 殘余應(yīng)力國際分析檢測標準。EDGE 配備了基于單光子計數(shù)技術(shù)的線性硅條快速檢測器，具有無噪聲性能，做到高強度測量和快速數(shù)據(jù)采集。高效的一...

儀器簡介STRESS-X 是一款無損檢測殘余應(yīng)力分析儀，符合 ASTM E915 及 EN 15305 殘余應(yīng)力國際分析檢測標準。儀器的衍射單元安裝在6自由度的機器人臂上，通過移動機械臂可對各種形狀和尺寸的樣品進行檢測。整個測試系...

儀器簡介X 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法，而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據(jù) ASTM E975 的X射線測量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法，AREX L 能夠很輕松檢測出鋼...

儀器簡介在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過程中，對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格，精確測量其含量，對于鋼鐵熱處理過程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因為化學(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和準確度較低的情況，所以無法做...

儀器簡介TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X...

儀器簡介TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X...

儀器簡介MagStress5c 是GNR公司新近開發(fā)的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的磨削燒傷檢測儀，能夠?qū)﹁F磁性材料制成的部件或結(jié)構(gòu)上存在的磨削燒傷狀態(tài)提供即時無損診斷，廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域。MagStress5c 主要由信...

儀器簡介MagStress5c 是GNR公司新近開發(fā)的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的快速殘余應(yīng)力檢測儀，能夠?qū)﹁F磁性材料制成的部件或結(jié)構(gòu)上存在的應(yīng)力狀態(tài)提供即時無損診斷，廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域。MagStress5c 主要由信...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于核材料工業(yè)領(lǐng)域儀器簡介TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于油品分析領(lǐng)域全反射X-光熒光分析儀(Total-reflectionX-rayFluorescenceSpectrometer,TXRF)傳統(tǒng) X-光熒光分析儀(X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射試片以激發(fā)...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于半導(dǎo)體材料領(lǐng)域（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于染料分析領(lǐng)域能量發(fā)散X光熒光分析儀（簡稱EDXRF：Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry），EDXRF的儀器構(gòu)造，如同WDXRF，也是由相同約三部分組成，即激發(fā)源、光譜儀...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于法醫(yī)學(xué)領(lǐng)域樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將控測...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結(jié)構(gòu)。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團均是周期...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于環(huán)境分析領(lǐng)域X射線熒光(XRF)是當原級X射線照射樣品時，受激原子內(nèi)層電子產(chǎn)生能級躍遷所發(fā)射的特征二次X射線。該二次X射線的能量及強度可被探測，與樣品內(nèi)待測元素的含量相關(guān)，此為X...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于制藥分析領(lǐng)域EDXRF中X射線的出入射角度通常約為40度，分析深度通常發(fā)生在近表層100μm左右，有較強的背景及基體影響；TXRF為EDXRF的變種，其入射角度0.1度，分析深度通常1μm，原級束...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應(yīng)用于化學(xué)純度分析領(lǐng)域通常，僅需將樣品溶液或懸濁液置于支撐的光學(xué)平面上(如石英玻璃)，蒸干后，殘留物上機檢測。因平面的高反射率，載體的光譜背景幾乎被消除；少量的殘留物所形成的薄...

MagStress5c 巴克豪森應(yīng)力檢測儀 具有輸出MPa應(yīng)力值特點儀器簡介MagStress5c 是GNR公司新近開發(fā)的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的快速殘余應(yīng)力檢測儀，能夠?qū)﹁F磁性材料制成的部件或結(jié)構(gòu)上存在的應(yīng)力狀態(tài)提供即...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 應(yīng)用于航空航天領(lǐng)域X射線粉末衍射儀利用衍射原理精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，以進行物相分析，定性分析，定量分析。X射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 應(yīng)用于礦物冶金領(lǐng)域X射線粉末衍射儀廣泛用于無機物、有機物、高分子材料、藥物、礦物等樣品的分析。可進行物相定性和定量分析、藥物晶型鑒別、小角散射分析、長周期測定、顆粒分布測定...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 采用 Kα1 Johannson 單色器儀器簡介APD 2000 PRO 為定性和定量的粉末X射線衍射儀。精確電路控制反饋系統(tǒng)，保證X 射線發(fā)生器更加穩(wěn)定；預(yù)設(shè)高壓和激發(fā)電流，并可實現(xiàn)自動斜坡程度上升；...

EXPLORER 多功能X射線衍射儀 具有測量混合物質(zhì)的相態(tài)功能當一束X射線入射到晶體時，首先被原子（電子）所散射，每個原子都是一個新的輻射源，向空間輻射出與入射波同頻率的電磁波。由于晶體是由原子、分子或離子按一...