儀器簡介APD 2000 PRO 為定性和定量的粉末X射線衍射儀。精確電路控制反饋系統，保證X 射線發生器更加穩定；預設高壓和激發電流，并可實現自動斜坡程度上升；細焦點的陶瓷X 射線管具有優良的重現性和穩定性；采用高聚...

儀器簡介EXPLORER 在眾多分析領域都可發揮優良的性能，例如可以測量混合物質的相態；檢測微觀的結構性質，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。其模塊化設計，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器...

儀器簡介EDGE 是一款便攜式殘余應力分析儀，符合 ASTM E915 及 EN 15305 殘余應力國際分析檢測標準。EDGE 配備了基于單光子計數技術的線性硅條快速檢測器，具有無噪聲性能，做到高強度測量和快速數據采集。高效的一...

儀器簡介STRESS-X 是一款無損檢測殘余應力分析儀，符合 ASTM E915 及 EN 15305 殘余應力國際分析檢測標準。儀器的衍射單元安裝在6自由度的機器人臂上，通過移動機械臂可對各種形狀和尺寸的樣品進行檢測。整個測試系...

儀器簡介X 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法，而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據 ASTM E975 的X射線測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法，AREX L 能夠很輕松檢測出鋼...

儀器簡介在許多工業生產加工過程中，對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格，精確測量其含量，對于鋼鐵熱處理過程中產品特性和質量的控制有重大意義。因為化學蝕刻和傳統金相研究存在靈敏度和準確度較低的情況，所以無法做...

儀器簡介TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X...

儀器簡介TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X...

儀器簡介MagStress5c 是GNR公司新近開發的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的磨削燒傷檢測儀，能夠對鐵磁性材料制成的部件或結構上存在的磨削燒傷狀態提供即時無損診斷，廣泛應用于工業領域。MagStress5c 主要由信...

儀器簡介MagStress5c 是GNR公司新近開發的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的快速殘余應力檢測儀，能夠對鐵磁性材料制成的部件或結構上存在的應力狀態提供即時無損診斷，廣泛應用于工業領域。MagStress5c 主要由信...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應用于核材料工業領域儀器簡介TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應用于油品分析領域全反射X-光熒光分析儀(Total-reflectionX-rayFluorescenceSpectrometer,TXRF)傳統 X-光熒光分析儀(X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射試片以激發...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應用于半導體材料領域（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應用于染料分析領域能量發散X光熒光分析儀（簡稱EDXRF：Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry），EDXRF的儀器構造，如同WDXRF，也是由相同約三部分組成，即激發源、光譜儀...

HORIZON 全反射X熒光光譜儀 應用于法醫學領域樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 應用于工業領域X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結構。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團均是周期...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應用于環境分析領域X射線熒光(XRF)是當原級X射線照射樣品時，受激原子內層電子產生能級躍遷所發射的特征二次X射線。該二次X射線的能量及強度可被探測，與樣品內待測元素的含量相關，此為X...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應用于制藥分析領域EDXRF中X射線的出入射角度通常約為40度，分析深度通常發生在近表層100μm左右，有較強的背景及基體影響；TXRF為EDXRF的變種，其入射角度0.1度，分析深度通常1μm，原級束...

TX 2000 全反射X熒光光譜儀 應用于化學純度分析領域通常，僅需將樣品溶液或懸濁液置于支撐的光學平面上(如石英玻璃)，蒸干后，殘留物上機檢測。因平面的高反射率，載體的光譜背景幾乎被消除；少量的殘留物所形成的薄...

MagStress5c 巴克豪森應力檢測儀 具有輸出MPa應力值特點儀器簡介MagStress5c 是GNR公司新近開發的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的快速殘余應力檢測儀，能夠對鐵磁性材料制成的部件或結構上存在的應力狀態提供即...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 應用于航空航天領域X射線粉末衍射儀利用衍射原理精確測定物質的晶體結構，織構及應力，以進行物相分析，定性分析，定量分析。X射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 應用于礦物冶金領域X射線粉末衍射儀廣泛用于無機物、有機物、高分子材料、藥物、礦物等樣品的分析。可進行物相定性和定量分析、藥物晶型鑒別、小角散射分析、長周期測定、顆粒分布測定...

APD 2000 PRO 粉末X射線衍射儀 采用 Kα1 Johannson 單色器儀器簡介APD 2000 PRO 為定性和定量的粉末X射線衍射儀。精確電路控制反饋系統，保證X 射線發生器更加穩定；預設高壓和激發電流，并可實現自動斜坡程度上升；...

EXPLORER 多功能X射線衍射儀 具有測量混合物質的相態功能當一束X射線入射到晶體時，首先被原子（電子）所散射，每個原子都是一個新的輻射源，向空間輻射出與入射波同頻率的電磁波。由于晶體是由原子、分子或離子按一...