HORIZON 全反射X熒光光譜儀  應(yīng)用于油品分析領(lǐng)域

全反射X-光熒光分析儀(Total-reflection X-ray Fluorescence Spectrometer, TXRF ) 傳統(tǒng) X-光熒光分析儀 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射試片以激發(fā)試片中的元素，當(dāng)原子自激發(fā)態(tài)回到基態(tài)時，偵測所釋放出來的熒光，經(jīng)由分光儀分析其能量與強(qiáng)度后，可提供試片中組成元素的種類與含量，具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點(diǎn)；然而X-光熒光分析儀分析的靈敏度受到試片基質(zhì)散射效應(yīng)及入射X-光與試片基座反應(yīng)產(chǎn)生的制動幅射的限制，爾后逐漸發(fā)展出全反射X-光熒光分析儀，才大幅提高X-光熒光分析儀的靈敏度。 

儀器簡介

TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。

HORIZON 配備了12位樣品臺自動測量，創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī)，保證精確角度測量，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。廣泛應(yīng)用在環(huán)境分析、制藥分析、法醫(yī)學(xué)、化學(xué)純度分析、油品分析、染料分析、半導(dǎo)體材料及核材料工業(yè)分析領(lǐng)域。

主要特點(diǎn)
■ 單內(nèi)標(biāo)校正，有效簡化了定量分析，無基體影響；
■ 對于任何基體的樣品可單獨(dú)進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析；
■ 多元素實(shí)時分析，可進(jìn)行痕量和超痕量分析；
■ 不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響；
■ 獨(dú)特的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；
■ 優(yōu)良的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
■ 出色的動態(tài)線性范圍；
■ 無需任何化學(xué)前處理，無記憶效應(yīng)；
■ 非破壞性分析，運(yùn)行成本低廉。

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注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。