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JIS K 0163:2010
表面化學分析.次級離子質譜法.離子注入標樣中相對靈敏度系數的測定

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

標準號: JIS K 0163:2010
發布: 2010年
發布單位: 日本工業標準調查會
當前最新: JIS K 0163:2010

引用標準: JIS K 0147

JIS K 0163:2010 中可能用到的儀器設備

分子互作分析儀

專題

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JIS K 0163:2010相似標準

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誰引用了JIS K 0163:2010 更多引用

JIS K 9045:1972(1992) 日本工業標準 L-天冬氨酸

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