光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)
本專題涉及光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)有103條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)涉及到光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、光纖通信、無(wú)損檢測(cè)、電信專用測(cè)量設(shè)備、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、分析化學(xué)、地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、詞匯、真空技術(shù)、塑料、輻射防護(hù)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)涉及到光通信設(shè)備、光學(xué)儀器綜合、光學(xué)計(jì)量?jī)x器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、光學(xué)計(jì)量、色譜儀、光學(xué)測(cè)試儀器、、氣象學(xué)、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、量具與量?jī)x、計(jì)量綜合、物理特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、物性分析儀器、焊接與切割、電測(cè)模擬指示儀表、化學(xué)計(jì)量、光學(xué)設(shè)備、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、真空技術(shù)與設(shè)備、電離輻射計(jì)量、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、長(zhǎng)度計(jì)量、聲學(xué)儀器與測(cè)震儀、機(jī)械量?jī)x表、自動(dòng)秤重裝置與其他檢測(cè)儀表。
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- NF C93-845:2006 光譜分析儀校準(zhǔn)
- NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn) 第1部分：光譜分析儀
- NF C93-803*NF EN 61315:2006 光纖功率儀的校準(zhǔn)
- NF C93-803:1997 光纖功率儀的校準(zhǔn)
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- CEN EN 62129-2006 光譜分析儀校準(zhǔn)
- CEN EN 62129-2006_ 光譜分析儀校準(zhǔn)
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1840-96(2022) 光譜儀校準(zhǔn)用拉曼位移標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1840-96(2002) 用于光譜儀校準(zhǔn)的拉曼位移標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM G138-96 用標(biāo)準(zhǔn)輻射源校準(zhǔn)分光輻射譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E2911-23 拉曼光譜儀相對(duì)強(qiáng)度校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2911-13 拉曼光譜儀相對(duì)強(qiáng)度校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E3029-15(2023) 熒光光譜儀發(fā)射信號(hào)相對(duì)光譜校正系數(shù)測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E2719-09(2022) 熒光儀器校準(zhǔn)和鑒定標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2719-09 熒光儀器校準(zhǔn)和鑒定標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2040-19 熱重分析儀質(zhì)譜校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
- ASTM G138-12 用標(biāo)準(zhǔn)發(fā)光源校準(zhǔn)光譜輻射計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E3029-15 用于測(cè)定熒光光譜儀發(fā)射信號(hào)相對(duì)光譜校正因子的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E2719-09(2014) 熒光儀器校準(zhǔn)和鑒定用標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM G138-12(2020)e1 用標(biāo)準(zhǔn)輻照度源校準(zhǔn)光譜輻射計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1305-89 分析原子光譜儀單元素校準(zhǔn)溶液制備實(shí)踐
- ASTM E388-04(2015) 熒光光譜儀的波長(zhǎng)準(zhǔn)確度和光譜帶寬的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
- ASTM C1426-14(2020) 偏光鏡的校準(zhǔn)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM E2056-04(2010) 用于使用替代混合物校準(zhǔn)的多變量分析中的合格光譜儀和分光光度計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1818-2020 拉曼光譜儀校準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1329-2011 瞬態(tài)光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1544-2015 拉曼光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1601-2016 漫反射測(cè)量光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 2002-2022 激光標(biāo)線儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1603-2016 (0.1~2.5)THz太赫茲光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1851-2020 α譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 2024-2023 能量色散X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1319-2011 傅立葉變換紅外光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1304-2011 量塊比較儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1929-2021 旋轉(zhuǎn)圓盤電極發(fā)射光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 2067-2023 射線能譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1396-2013 頻譜分析儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1497-2014 偏光儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1133-2005 X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1953-2021 硫化學(xué)發(fā)光檢測(cè)器氣相色譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1850-2020 鍺γ射線譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1164-2018 氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1317-2011 液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1250-2010 激光測(cè)徑儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 2078-2023 實(shí)時(shí)頻譜分析儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 2170-2024 激光光束分析儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1219-2009 激光測(cè)振儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1989-2022 光譜照度計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1975-2022 光譜輻射計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1528-2015 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1166-2007 激光掃平儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1663-2017 激光測(cè)微儀校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF(機(jī)械)1089-2023 標(biāo)準(zhǔn)噴砂硬度塊校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1712-2018 薄層色譜掃描儀校準(zhǔn)規(guī)范
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- BS PD IEC PAS 62129:2004 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- BS EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)校準(zhǔn)/光頻測(cè)量?jī)x器. 光譜分析儀
- PAS 62129-2004 光譜分析儀的校準(zhǔn)（1.0 版；：2006 年）
- BS ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
意大利電工委員會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- CEI EN 62129:2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- CEI EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn) 第1部分：光譜分析儀
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/EN 62129:2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- DS/EN 62129/Corr. 1:2007 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- DANSK DS/EN 62129:2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- DANSK DS/EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn) 第1部分：光譜分析儀
德國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- VDI VDE DGQ DKD 2622 Blatt-11 E:2019-11 光譜分析儀的校準(zhǔn)
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS C 6192:2008 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- JIS K 7200:1986 試驗(yàn)室耐光輻照儀校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)試樣
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 62129:2006 光譜分析儀校準(zhǔn)方法
- IEC 62129-1:2016 波長(zhǎng)/逛拼測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn).第1部分:光譜分析儀
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00445-2021 輝光放電質(zhì)譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- T/CSTM 00159-2020 便攜式拉曼光譜儀校準(zhǔn)方法
- T/CSTM 00901-2023 手持式X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- T/CMA YX130-2024 眩光測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)方法
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 62129-2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)（IEC 62129:2006）
- LST EN 62129-2006/AC-2007 光譜分析儀的校準(zhǔn)（IEC 62129:2006）
中國(guó)氣象局，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- QX/T 532-2019 Brewer光譜儀標(biāo)校規(guī)范
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)
- DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 光譜分析儀的校準(zhǔn).技術(shù)勘誤DIN EN 62129-2007-01
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn) 第1部分：光譜分析儀
歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn) 第1部分：光譜分析儀
- EN 62129:2006 光學(xué)頻譜分析儀校準(zhǔn);合并勘誤表2006年12月
瑞典標(biāo)準(zhǔn)研究所，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- SS-EN 62129-1:2016 校準(zhǔn)波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器 第一部分：光學(xué)譜分析儀
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- KS A 0083-2013 質(zhì)譜計(jì)式檢漏儀校準(zhǔn)
- KS A 0083-2023 質(zhì)譜計(jì)式檢漏儀校準(zhǔn)
- KS A 0083-2002 質(zhì)譜計(jì)式檢漏儀校準(zhǔn)
- KS B ISO 3530-2002(2012) 真空技術(shù)質(zhì)譜儀檢漏儀校準(zhǔn)
- KS B ISO 3530:2013 真空技術(shù) 質(zhì)譜儀型檢漏儀校準(zhǔn)
- KS B ISO 3530-2013 真空技術(shù) 質(zhì)譜儀 型檢漏儀校準(zhǔn)
- KS B ISO 3530:2002 真空技術(shù).質(zhì)譜儀型檢漏儀校準(zhǔn)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 8428-1996 校正鋼焊縫超聲檢測(cè)儀器用標(biāo)準(zhǔn)試塊
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF（閩）1085-2018 便攜式拉曼光譜快速檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 61315:1997 光纖功率儀校準(zhǔn)
海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 3530:2013 真空技術(shù) 質(zhì)譜儀型檢漏儀校準(zhǔn)
巴林國(guó)家計(jì)量局，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 3530:2016 真空技術(shù) 質(zhì)譜儀型檢漏儀校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 15472:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 18193-2000 真空技術(shù) 質(zhì)譜檢漏儀校準(zhǔn)
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 3530:1979 真空技術(shù) 質(zhì)譜儀型檢漏儀校準(zhǔn)
國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG 417-1986 用<上標(biāo)152>Eu點(diǎn)狀γ標(biāo)準(zhǔn)源校準(zhǔn)鍺γ譜儀檢定規(guī)程
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO 3530:2013 真空技術(shù) 質(zhì)譜儀型檢漏儀校準(zhǔn)
IN-BIS，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 10166-1982 校準(zhǔn)硬度測(cè)試設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)試塊的校準(zhǔn)方法
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)塊 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI 10312:1994 用于伽馬能譜儀校準(zhǔn)的參考源準(zhǔn)備
