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LST EN 62374-1-2011/AC-2011
半導體器件第1部分：金屬間層的時間相關電介質擊穿（TDDB）測試（IEC 62374-1:2010）

Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010)

標準號: LST EN 62374-1-2011/AC-2011
發布: 2011年
總頁數: 7頁
發布單位: 立陶宛標準局
當前最新: LST EN 62374-1-2011/AC-2011

LST EN 62374-1-2011/AC-2011相似標準

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