GB/T 5170.18-1987
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products--Composite temperature/humidity cyclic testing equipments
GBT5170.18-1987, GB5170.18-1987
2006-06
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 5170.18-1987
- 別名
- GBT5170.18-1987, GB5170.18-1987
- 發(fā)布
- 1987年
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家質(zhì)檢總局
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 5170.18-2005
- 當(dāng)前最新
- GB/T 5170.18-2022
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了按GB 2423.34-86《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法》進(jìn)行溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)時(shí)所用試驗(yàn)設(shè)備（以下簡(jiǎn)稱設(shè)備）基本參數(shù)的檢定方法。溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)在同一試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行時(shí)（以下簡(jiǎn)稱一箱法），應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)的所有規(guī)定；溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)在二個(gè)獨(dú)立試驗(yàn)箱進(jìn)行時(shí)（以下簡(jiǎn)稱二箱法），濕熱試驗(yàn)箱應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)所有規(guī)定；低溫試驗(yàn)箱應(yīng)符合GB 5170.2-85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫試驗(yàn)設(shè)備》的規(guī)定。
專題
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