GB/T 8014.3-2005
鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化 氧化膜厚度的測(cè)量方法 第3部分;分光束顯微鏡法
Anodizing of aluminium and its alloys-The measuring method of thickness of anodic oxide coatings Part 3:Split-beam microscope method
GBT8014.3-2005, GB8014.3-2005
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 8014.3-2005
- 別名
- GBT8014.3-2005, GB8014.3-2005
- 發(fā)布
- 2005年
- 總頁(yè)數(shù)
- 6頁(yè)
- 采用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 2128-1976(E) MOD
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 8014.3-2005
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 8014.1 ISO 2128:1976
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 8015.2-1987
- 適用范圍
- 本部分規(guī)定了用分光束顯微鏡測(cè)定鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度的無(wú)損測(cè)定方法。 本部分適用于膜厚大于10μm的一般工業(yè)用氧化膜，或膜厚不小于5μm的表面平滑的氧化膜。 本部分不適用于深色氧化膜或表面粗糙的氧化膜。
| 術(shù)語(yǔ) | 描述 |
|---|---|
| 陽(yáng)極氧化膜的局部厚度 local thickness of anodic oxide coating | 在考察面積內(nèi)，至少取 10 點(diǎn)對(duì)膜厚進(jìn)行單一測(cè)量，測(cè)得結(jié)果的算術(shù)平均值。 |
GB/T 8014.3-2005 中提到的儀器設(shè)備
| 專用分光束顯微鏡 | 用于測(cè)量透明膜厚及表面粗糙度，已用陽(yáng)極氧化膜的標(biāo)樣進(jìn)行校準(zhǔn)。 |
專題
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