ISO 10111:2000
金屬和其他無機覆蓋層 單位面積質(zhì)量的測量 重量分析法和化學(xué)分析方法評述

Metallic and other inorganic coatings - Measurement of mass per unit area - Review of gravimetric and chemical analysis methods

被代替

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標(biāo)準(zhǔn)號

ISO 10111:2000

發(fā)布

2000年

總頁數(shù)

20頁

中文版

GB/T 20017-2005 (等同采用的中文版本)

發(fā)布單位

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織

替代標(biāo)準(zhǔn)

ISO 10111:2019

當(dāng)前最新

ISO 10111:2019

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

ISO 2079:1981 ISO 2080:1981 ISO 2081:1986 ISO 2082:1986 ISO 2093:1986 ISO 2106:1982 ISO 3892 ISO 4522-1:1985 ISO 4524-1:1985 ISO 7587:1986 ISO 8407:1991

適用范圍

概述 本國際標(biāo)準(zhǔn)概述了使用重量分析和其他化學(xué)分析測定陽極氧化或自催化、機械、化學(xué)轉(zhuǎn)化、電沉積、熱浸鍍鋅和真空沉積涂層測量區(qū)域的平均表面密度的一般方法。 已達(dá)到一定程度的國家或國際標(biāo)準(zhǔn)化的程序。 描述了多種程序，包括： 　——用于化學(xué)或電化學(xué)溶解涂層或基材以確定涂層表面密度的重量分析程序； 　——利用涂層溶解進(jìn)行光度法或體積法測定涂層表面密度的分析程序； 　——對涂層進(jìn)行無損儀器物理分析以確定表面密度。 除 ISO 3892 中描述的重量分析方法外： 　——本國際標(biāo)準(zhǔn)沒有給出所引用方法的測量不確定度。 2 來源 附錄 A 中引用的剝離方法在公開文獻(xiàn)的規(guī)范中進(jìn)行了描述，或者已被至少一個實驗室常規(guī)使用。 3 限制 所描述的程序可用于許多涂層-基材組合。 它們不能用于涂層和基材材料都不能通過化學(xué)或物理手段完全去除的情況，并且兩者具有不易分離的共同成分（例如鎳上的鎳磷合金）。 注：在非常小的工件上測量非常薄的涂層可能會導(dǎo)致精度降低且缺乏可重復(fù)性。 對類似樣品使用不同程序的組合進(jìn)行多次測量可能會克服這種情況。 4 限制 原則上，重量分析程序可用于測量非常薄的涂層或測量小區(qū)域的涂層，但不能測量小區(qū)域的薄涂層。 限制取決于所需的精度；例如，2.5 mg/cm 的涂層可能需要 1 cm ，但 0.1 mg/cm 的涂層需要 25 cm 才能獲得 2.5 mg 的涂層。 這些限制不適用于化學(xué)分析方法。 重量分析法并不表明測量區(qū)域中存在裸露點或厚度低于規(guī)定最小值的部位。 此外，從每個測量區(qū)域獲得的單個值是該區(qū)域的平均厚度。 無法對該單個值進(jìn)行進(jìn)一步的數(shù)學(xué)分析，例如用于統(tǒng)計過程控制目的。

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專題

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