DIN 5030-2:1982
輻射的光譜測(cè)量.輻射源.選擇標(biāo)準(zhǔn)
Spectral measurement of radiation; radiation sources; selection criteria
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- DIN 5030-2:1982
- 發(fā)布
- 1982年
- 發(fā)布單位
- 德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 5030-2:1982-09
- 當(dāng)前最新
- DIN 5030-2:1982-09
- 適用范圍
- 輻射光譜測(cè)量；輻射源、選擇標(biāo)準(zhǔn)輻射的光譜測(cè)量；來(lái)源、選擇標(biāo)準(zhǔn) Weitere Teile über allgemeine Begriffe、specktrale Aussonderung、Begriffe 和 Definitionen im Probenraum sowie Kenn-g
專(zhuān)題
DIN 5030-2:1982相似標(biāo)準(zhǔn)
DIN 5030-2:1982-09 輻射光譜測(cè)量；輻射源；選擇標(biāo)準(zhǔn)
DIN 5030-5:2019-08 輻射光譜測(cè)量 用于輻射光譜測(cè)量的物理探測(cè)器 術(shù)語(yǔ)、特征量、選擇標(biāo)準(zhǔn)
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CIE 250:2022 光輻射源的光譜輻射測(cè)量
DIN 5030-5 E:2018 輻射光譜測(cè)量 用于輻射光譜測(cè)量的物理探測(cè)器 術(shù)語(yǔ)、特征量、選擇標(biāo)準(zhǔn) 草案