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用于光束敏感電池材料的原位、低溫及像差校正掃描透射電鏡（STEM）與低溫等離子聚焦離子束（PFIB）系統
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2025.06.18
用于光束敏感電池材料的原位、低溫及像差校正掃描透射電鏡（STEM）與低溫等離子聚焦離子束（PFIB）系統。Yaobin Xu，美國太平洋西北國家實驗室
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