合成二氧化硅晶體的方法
本專題涉及合成二氧化硅晶體的方法的標準有112條。
國際標準分類中，合成二氧化硅晶體的方法涉及到陶瓷、化工產品、非金屬礦、橡膠和塑料用原料、分析化學、半導體分立器件、空氣質量、金屬礦、有色金屬、電氣工程綜合、石油產品綜合、無機化學、核能工程、防護設備、廢物、包裝材料和輔助物。
在中國標準分類中，合成二氧化硅晶體的方法涉及到電子技術專用材料、化工原料礦、冶金輔助原料礦、生鐵、氧化物、單質、催化劑基礎標準與通用方法、重金屬及其合金分析方法、炭黑、稀有金屬及其合金分析方法、鉻礦、非金屬礦綜合、一般有機化工原料、建材原料礦、貴金屬及其合金分析方法、、核材料、核燃料及其分析試驗方法、篩分、篩板與篩網、標志、包裝、運輸、貯存綜合、半金屬及半導體材料分析方法。
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- GB/T 36655-2018 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法
- GB/T 18882.3-2019 離子型稀土礦混合稀土氧化物化學分析方法 第3部分：二氧化硅含量的測定
- GB/T 14506.31-2019 硅酸鹽巖石化學分析方法 第31部分：二氧化硅等12個成分量測定 偏硼酸鋰熔融-電感耦合等離子體原子發射光譜法
- GB/T 14506.32-2019 硅酸鹽巖石化學分析方法 第32部分：三氧化二鋁等20個成分量測定 混合酸分解-電感耦合等離子體原子發射光譜法
行業標準-商品檢驗，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- SN/T 0480.7-1995 出口重晶石分析方法.二氧化硅的測定
- SN/T 0481.7-2007 進出口礬土檢驗方法 電感耦合等離子體原子發射光譜法 測定三氧化二鐵、二氧化鈦、二氧化硅、氧化鈣、氧化鎂含量
- SN/T 3322.2-2015 進出口鈦精礦化學分析方法 第2部分:五氧化二釩、三氧化二鉻含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法
韓國科技標準局，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- KS L 2107-1999(2019) 測試方法二氧化硅涂層到玻璃基體的粘合
- KS L ISO 21079-3-2012(2017) 氧化鋁、氧化鋯、二氧化硅耐火材料化學分析氧化鋯含量5%～45%的耐火材料（X射線熒光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收光譜法（FAAS）和電感耦合等離子體原子發射光譜法（ICP-AES）
- KS L ISO 21079-3-2012(2022) 含氧化鋁、氧化鋯和二氧化硅的耐火材料的化學分析－含5%至45%ZrO2的耐火材料（代替X射線熒光法）－第3部分:火焰原子吸收光譜法（FAAS）和電感耦合等離子體原子發射光譜法（ICP-AES）
美國材料與試驗協會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- ASTM D6845-12 二氧化硅 沉淀 水合的標準測試方法
- ASTM D6738-15(2019) 沉淀二氧化硅的標準試驗方法&x2014；揮發性成分
- ASTM D8300-19(2023) 沉淀水合二氧化硅電導率的標準試驗方法
- ASTM D8300-19 沉淀水合二氧化硅的標準試驗方法&x2014；導電性
- ASTM D8016-22 沉淀水合西爾斯值二氧化硅的標準試驗方法
- ASTM D8016-15 沉淀的水合二氧化硅的標準試驗方法. 西爾斯數
- ASTM D8016-18 沉淀水合二氧化硅的標準試驗方法&x2014；西爾斯數
- ASTM D8016-18e1 沉淀水合二氧化硅的標準試驗方法&x2014；西爾斯數
- ASTM E463-14a 通過硅鉬酸鹽可見分光光度法測定熒光體中二氧化硅的標準測試方法
- ASTM D7948-20 通過紅外光譜法測量工作場所空氣中可吸入結晶二氧化硅的標準測試方法
- ASTM D7948-14 采用紅外光譜法測量工作場所空氣中可吸入結晶二氧化硅的標準試驗方法
- ASTM D7948-14e1 通過紅外光譜法測量工作場所空氣中可吸入結晶二氧化硅的標準測試方法
- ASTM D4926-20 通過X射線粉末衍射的含有二氧化硅和氧化鋁的催化劑和催化劑載體中的γ氧化鋁含量的標準測試方法
- ASTM D2597-10 氣相色譜法分析含有二氧化氮和二氧化碳的餾除甲烷烴類液體混合物的標準試驗方法
- ASTM D6845-22 沉淀水合CTAB（十六烷基三甲基溴化銨）表面積二氧化硅的標準試驗方法
- ASTM D2597-94(2004) 含有二氧化氮和二氧化碳的餾除甲烷烴類液體混合物的氣相色譜分析標準試驗方法
- ASTM D2597-94(1999) 含有二氧化氮和二氧化碳的餾除甲烷烴類液體混合物的氣相色譜分析標準試驗方法
- ASTM D6845-20 沉淀水合二氧化硅的標準試驗方法&x2014；CTAB（十六烷基三甲基溴化銨）表面積
- ASTM D6845-18 沉淀水合二氧化硅的標準試驗方法&x2014；CTAB（十六烷基三甲基溴化銨）表面積
- ASTM C1287-95(2001) 用電感耦合等離子體質譜法測定二氧化鈾中雜質的標準試驗方法
- ASTM C1287-03 用感應耦合等離子體質譜法測定二氧化鈾中混雜物的標準試驗方法
法國標準化協會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- NF T20-206:1973 鋁生產用伯氧化鋁.二氧化硅含量的測定.硅鉬鉻合成物還原分光光度法
- NF ISO 5794-2:2015 生膠混合物成分 水合二氧化硅 第2部分：生膠苯乙烯丁二烯的評估方法
- NF ISO 11345:2006 橡膠 - 炭黑和炭黑/二氧化硅分散體的評估 - 快速比較方法
- NF X43-601-2*NF EN 17289-2:2020 散裝材料的特性. 粒度加權細分數和結晶二氧化硅含量的測定. 第2部分: 計算方法
- NF EN 17289-2:2020 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- NF ISO 5794-3:2018 橡膠配合料 水合沉淀二氧化硅 第3部分：苯乙烯-丁二烯(S-SBR)和丁二烯(BR)橡膠溶液混合物中的評估方法
- NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣 X 射線衍射法測定結晶二氧化硅的可吸入部分 第1部分：直接過濾分析方法
- NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射測定結晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分：間接分析方法
- NF X43-601-1*NF EN 17289-1:2020 散裝材料的特性. 粒度加權細分數和結晶二氧化硅含量的測定. 第1部分: 一般信息和試驗方法的選擇
- NF EN 17289-1:2020 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
- XP ISO/TS 21361:2019 納米技術 在含有粉塵混合物的工業制造環境中以納米級量化炭黑和無定形二氧化硅空氣中濃度的方法
行業標準-化工，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- HG/T 6149-2023 加氫催化劑及其載體中二氧化硅晶相含量的測定 X射線衍射法
- HG/T 3073-1999 橡膠配合劑.沉淀水合二氧化硅比表面積的測定.氮吸附方法
工業和信息化部，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- YB/T 4583.1-2017 莫來石 二氧化硅、三氧化二鐵、氧化鈣、氧化鎂、二氧化鈦和五氧化二磷含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法
- YS/T 1317-2019 1,3-二乙烯基-1,1,3,3-四甲基二硅氧烷鉑（0）化學分析方法 鉑含量的測定 水合肼還原法
- YS/T 1057.3-2022 四氧化三鈷化學分析方法 第3部分：硅含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法
- YS/T 568.12-2022 氧化鋯、氧化鉿化學分析方法 第12部分：氧化鋯中硼、鈉、鎂、鋁、硅、鈣、鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鉬、鎘、鉿、鉛、鉍含量的測定 電感耦合等離子體質譜法
國家質量監督檢驗檢疫總局，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- SN/T 4758-2017 金紅石中三氧化二鐵、二氧化硅、二氧化鋯含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法
英國標準學會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- 20/30406234 DC BS IEC 63275-2 Ed.1.0 半導體器件 碳化硅分立金屬氧化物半導體場效應晶體管的可靠性測試方法 第2部分. 體二極管工作造成的雙極退化的測試方法
- BS EN 17289-2:2020 散裝材料的特性 粒度加權細顆粒和結晶二氧化硅含量的測定 計算方法
- BS IEC 63275-1:2022 半導體器件 碳化硅分立金屬氧化物半導體場效應晶體管的可靠性測試方法 偏置溫度不穩定性測試方法
- 19/30380076 DC BS EN 17289-2 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第二部分 計算方法
- BS EN 17289-1:2020 散裝材料的特性 粒度加權細顆粒和結晶二氧化硅含量的測定 一般信息和測試方法的選擇
- 19/30380079 DC BS EN 17289-3 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第三部分 沉降方法
- 20/30406230 DC BS IEC 63275-1 半導體器件 碳化硅分立金屬氧化物半導體場效應晶體管的可靠性測試方法 第1部分.偏置溫度不穩定性測試方法
- 19/30380073 DC BS EN 17289-1 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
- BS ISO 5189:2023 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷） 使用電感耦合等離子體光發射光譜法對二氧化硅粉末中的金屬雜質進行化學分析的方法
- BS EN 14046:2003 包裝.在可控合成條件下包裝材料的最大需氧生物降解性和分解的評定.釋放的二氧化碳的分析方法
- PD ISO/TS 21361:2019 納米技術 混合粉塵制造環境中納米顆粒尺寸范圍內炭黑和無定形二氧化硅空氣濃度的量化方法
國際電工委員會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- IEC 63275-2:2022 半導體器件.碳化硅分立金屬氧化物半導體場效應晶體管的可靠性試驗方法.第2部分:由體二極管操作引起的雙極退化的試驗方法
行業標準-有色金屬，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- YS/T 461.5-2003 混合鉛鋅精礦化學分析方法.二氧化硅量的測定.鉬藍分光光度法
- YS/T 461.5-2013 混合鉛鋅精礦化學分析方法 第5部分:二氧化硅量的測定 鉬藍分光光度法
- YS/T 514.9-2009 高鈦渣、金紅石化學分析方法.第9部分:氧化鈣、氧化鎂、一氧化錳、磷、三氧化二鉻和五氧化二釩量的測定.電感耦合等離子體發射光譜法
- YS/T 1046.6-2015 銅渣精礦化學分析方法 第6部分:三氧化二鋁量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法
- YS/T 715.2-2009 二氧化硒化學分析方法.第2部分:砷、鎘、鐵、汞、鉛量的測定.電感耦合等離子體原子發射光譜法
- YS/T 568.13-2023 氧化鋯、氧化鉿化學分析方法 第13部分：氧化鉿中硼、鈉、鎂、鋁、硅、鈣、鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鋯、鈮、鉬、鎘、錫、銻、鉭、鎢、鉛、鉍含量的測定 電感耦合等離子體質譜法
AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- T 364-2017 堿氧化硅反應聚集體復合活化能測定的標準試驗方法（化學法）
IT-UNI，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- UNI 3895-1957 礦物質化學分析方法．鉻礦物質中的硅測定．用二氧化鈉分解測體積法
- UNI EN 17289-2-2021 松散材料的表征 尺寸加權細粒級分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- UNI EN 17289-1-2021 散裝材料的表征 尺寸加權的細小部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
CEN - European Committee for Standardization，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- PREN 17289-2-2019 松散材料的表征 尺寸加權細粒和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- PREN 17289-1-2019 散裝材料的表征 尺寸加權的細小部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
AT-OVE/ON，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- OVE EN IEC 63275-2:2021 半導體器件-碳化硅分立金屬氧化物半導體場效應晶體管的可靠性測試方法-第2部分：體二極管操作引起的雙極退化測試方法（IEC 47/2680/CDV）（英文版）
- OVE EN IEC 63275-1:2021 半導體器件 碳化硅分立式金屬氧化物半導體場效應晶體管的可靠性試驗方法 第1部分：偏置溫度不穩定性試驗方法（IEC 47/2679/CDV）（英文版）
丹麥標準化協會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- DS/EN 17289-2:2021 松散材料的表征 粒度加權細粒級和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- DS/EN 17289-1:2021 散裝材料的表征 尺寸加權細粒級和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
PL-PKN，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- PN-EN 17289-2-2021-05 E 松散材料的表征 粒度加權細粒級和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- PN-EN 17289-1-2021-05 E 散裝材料的表征 尺寸加權細粒級分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
歐洲標準化委員會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- EN 17289-2:2020 松散材料的表征 尺寸加權細粒級分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- EN 17289-1:2020 散裝材料的表征 尺寸加權的細小部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
- DD ENV 955-4-1997 耐火產品的化學分析 第4部分：含二氧化硅和/或氧化鋁的產品（火焰原子吸收光譜法（FAAS）和電感耦合等離子體原子發射光譜法（ICP）分析）
AT-ON，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- OENORM EN 17289-2-2021 松散材料的表征 尺寸加權細粒級分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- OENORM EN 17289-1-2021 散裝材料的表征 尺寸加權的細小部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
CH-SNV，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- SN EN 17289-2-2021 松散材料的表征 尺寸加權細粒級分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- SN EN 17289-1-2021 散裝材料的表征 尺寸加權的細小部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
立陶宛標準局，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- LST EN 17289-2-2021 松散材料的表征 尺寸加權細粒級分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- LST EN 17289-1-2021 散裝材料的表征 尺寸加權的細小部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
ES-UNE，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- UNE-EN 17289-2:2021 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- UNE-EN 17289-3:2021 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第3部分：沉降方法
- UNE-EN 17289-1:2021 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
德國標準化學會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- DIN EN 17289-2:2021-02 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第2部分：計算方法
- DIN EN 17289-3:2021-02 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第3部分：沉降方法
- DIN 50453-2:2023-08 半導體技術材料的測試 - 蝕刻混合物蝕刻速率的測定 - 第 2 部分：二氧化硅涂層，光學方法
- DIN 38408-5:1990-06 德國水、廢水和污泥檢驗標準方法；氣體成分（G組）；二氧化氯的測定（G 5）
- DIN EN 17289-1:2021-02 散裝材料的表征 粒度加權細粒部分和結晶二氧化硅含量的測定 第1部分：一般信息和測試方法的選擇
- DIN EN 17289-2:2021 散裝材料的表征. 粒度加權細粒級分和結晶二氧化硅含量的測定. 第2部分: 計算方法; 德文版 EN 17289-2-2020
內蒙古自治區標準，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- DB15/T 688.4-2014 二氧化釷粉末化學分析方法 第4部分：二氧化釷粉末中鈾、鉿、銻、鉍的測定—電感耦合等離子體質譜法
- DB15/T 688.1-2014 二氧化釷粉末化學分析方法 第1部分：二氧化釷粉末中鋁、鎳等22種雜質元素的測定—電感耦合等離子體發射光譜法
國家質檢總局，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- GB/T 16477.3-2010 稀土硅鐵合金及鎂硅鐵合金化學分析方法.第3部分：氧化鎂含量的測定.電感耦合等離子體發射光譜法
- GB/T 41938-2022 橡膠配合劑 沉淀水合二氧化硅 在溶聚丁苯橡膠(S-SBR)和丁二烯橡膠(BR)混合物中的評價方法
- GB/T 42513.4-2023 鎳合金化學分析方法 第4部分：硅含量的測定 一氧化二氮-火焰原子吸收光譜法和鉬藍分光光度法
AENOR，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- UNE 146507-1:1999 EX 測試聚集體 聚集體潛在反應性的測定 化學方法 第1部分：堿金屬二氧化硅和堿金屬硅酸鹽反應性的測定
KR-KS，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- KS L 1671-2023 用電感耦合等離子體-光發射光譜法對二氧化鈦粉末進行化學分析的方法
RU-GOST R，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- GOST 12.4.288-2015 職業安全標準體系. 呼吸保護裝置. 吸入呼吸氣體混合物中二氧化碳和氧含量的測定方法
- GOST R 12.4.268-2012 職業安全標準系統. 呼吸保護裝置. 吸入混合氣體中二氧化碳和氧氣的維護定義方法
燃氣加工者協會，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- GPA STD 2186-2014 程序升溫氣相色譜法擴展分析含氮氣和二氧化碳的烴類液體混合物的方法
- GPA STD 2186-2002 采用程控升溫氣相色譜法對含氮和二氧化碳的碳氫液體混合物進行擴展分析的方法
海關總署，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- SN/T 5249-2020 沉淀水合二氧化硅中鐵、錳、銅、鋁、鈦、鉛、鉻、鈣、鎂、鋅、鉀、鈉含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法
國際標準化組織，關于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- ISO/TS 21361:2019 納米技術.混合粉塵制造環境中納米顆粒范圍內炭黑和無定形二氧化硅空氣濃度的量化方法
- ISO/PRF 5189:2023 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷） 采用電感耦合等離子體光發射光譜法對二氧化硅粉末中金屬雜質進行化學分析的方法
- ISO 5189:2023 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷）—采用電感耦合等離子體光發射光譜法對二氧化硅粉末中金屬雜質進行化學分析的方法
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可能用到的儀器設備
