【福利】一文了解三大創新技術（附白皮書下載），參與贏質譜積木模型
高靈敏度是質譜儀非常廣泛的技術性能要求。與儀器的質量精度相比，一個經常被忽視的領域，是飛行時間高分辨質譜較低占空比從而使系統靈敏度降低。基于SCIEX ZenoTOF? 7600系統的Zeno? trap（Zeno 阱），使得進行MS/MS掃描時，在全質量范圍內提升占空比好于90%。這可以等同于系統的靈敏度提升了4-20倍。更重要的是，這樣的提升沒有犧牲任何關于其它系統性能。
SCIEX推出ZenoTOF 7600 系統，作為質譜創新的一次強大飛躍，這款高分辨率精確質量系統結合Zeno? trap(Zeno阱)技術的強大功能與電子活化解離(EAD)技術，極大提高了系統的靈敏度，并揭示日常檢測中新的、罕見的甚至以前未檢測到的信息。在每次實驗中檢測多達20倍以上的離子,并采用一系列可調碎裂技術，在每次實驗中發現每個分子的新信息，提高結果的可靠性，并能快速做出更明智的決策。
關于Zeno trap技術和EAD技術的信息，如果您想了解更多，下載以下兩本白皮書完整版，并可參與贏取質譜積木模型和臺歷，具體活動參見以下。
Zeno? SWATH? DIA技術白皮書——高靈敏度全景質譜方法探索生命科學新疆界
SWATH? DIA（數據非依賴型采集）技術已成為液相色譜串聯質譜聯用（LC-MS/MS）的重要工作流程之一，這離不開現代質譜儀在掃描速度和靈敏度方面的顯著提升。相較于傳統的數據依賴型采集（DDA）方法，SWATH DIA能夠以更高的重現性完成大量蛋白質、多肽和代謝物的鑒定。使用SWATH DIA技 術獲取的優質、高分辨率MS/MS數據不僅可以用于蛋白質的鑒定，還可用于高精準度的定量分析。
該白皮書回顧了Zeno? SWATH? DIA背后的技術創新，以及令該技術成為現實的質譜關鍵性能屬性。本白皮書中還展示了諸多例證，證明Zeno? SWATH DIA技術能以非凡的高通量和精準度，對痕量水平的分析物進行定性與定量。
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