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賽默飛色譜與質(zhì)譜分析
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賽默飛色譜與質(zhì)譜分析

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賽默飛Element GD Plus? GD-MS 航空航天：鎳高溫合金、復(fù)合材料、涂層和擴(kuò)散層的深度剖析

價格：面議
品牌：賽默飛 產(chǎn)地：美國 型號：IQLAAEGAAMFABWMAFA 樣本：來電或留言獲取樣本
AI問答
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參數(shù)規(guī)格
產(chǎn)地類別：進(jìn)口 供應(yīng)商性質(zhì)：生產(chǎn)商 儀器種類：GS 質(zhì)譜儀
詳細(xì)介紹

固體樣品中存在的幾乎所有元素都可以常規(guī)檢測和定量：許多元素可低至十億分之一（ppb）水平。

高生產(chǎn)率和低分析
成本Element GD Plus GD-MS旨在以高樣品通量提供出色的靈敏度和準(zhǔn)確度，從而大大降低分析成本。

  • 快速流動離子源

  • 用戶友好的源設(shè)計：< 1 分鐘樣品更換

  • 泵送時間短：< 10 分鐘樣品周轉(zhuǎn)時間

  • 高樣品通量：高達(dá) 5 個樣品/小時

  • 更少的樣品制備：無需對高純度樣品進(jìn)行酸清洗

  • 更快的樣品分析：無需測量校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品

日常操作
Element GD Plus GD-MS以常規(guī)操作和高通量為核心設(shè)計。

  • 線性動態(tài)范圍超過 12 個數(shù)量級，可同時分析基質(zhì)元素 （%）、痕量 （ppm） 和超痕量 （ppb）

  • 不同檢測模式之間的自動交叉校準(zhǔn)確保可靠的結(jié)果

  • 樣品真空室：消除樣品和GD池之間的泄漏風(fēng)險

  • 無需校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品即可在單次掃描中快速測定元素濃度（使用標(biāo)準(zhǔn)RSF方法）

  • 在較短的分析時間內(nèi)實(shí)現(xiàn)最佳精度

出色的檢測
限Element GD Plus GD-MS可提供高通量，不折不扣。Element GD Plus GD-MS具有最高的信噪比和最低的檢測限，是超高純度元素分析的主力。

  • 獨(dú)特的離子源專為高離子傳輸而設(shè)計，可最大化分析的信號。

  • 保證信噪比產(chǎn)生亞ppb級檢測限值

  • 可選的 CNO 選件可實(shí)現(xiàn) CNO 的亞 ppm 級檢測限值，而不會影響分析的通過量

  • 與靜態(tài)GD源相比，多原子干擾減少10倍

通過高質(zhì)量分辨率
信任結(jié)果高分辨率ICP-MS簡單，可實(shí)現(xiàn)最先進(jìn)的性能，而不會影響簡單可靠的方法開發(fā)。

  • 無干擾測量，獲得無可爭議的分析結(jié)果

  • 可以在單個分析中執(zhí)行分辨率設(shè)置的任意組合

  • 固定狹縫設(shè)計保證了最大的穩(wěn)定性和可重復(fù)性

  • 由于濾光透鏡，高基質(zhì)信號對相鄰分析物峰的貢獻(xiàn)最小

納米分辨率
的深度剖析深度剖析是涂層元素分析和跨層元素擴(kuò)散評估的重要工具。

  • 深度分辨率從納米到數(shù)百微米

  • 測定從亞ppm到100%的所有元素的濃度，無需校準(zhǔn)

  • 靈活的陽極直徑，用于高級深度剖析

  • 可以調(diào)整濺射速率以進(jìn)行批量分析或深度剖析

 

推薦用于：

  • 航空航天：鎳高溫合金、復(fù)合材料、涂層和擴(kuò)散層的深度剖析

  • 微電子：銅、氧化鋁粉、濺射靶材

  • 可再生能源：硅塊、硅片、太陽能電池

  • 醫(yī)療/制藥/食品：不銹鋼、合金


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注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。

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