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安捷倫科技（中國）有限公司
MIV-X 超聲波光探傷裝置
| 產地類別：進口 | 供應商性質：生產商 |
島津超聲波光探傷裝置MIV-X基于島津獨有的光學成像技術，將超聲波振子和頻閃觀測器相結合，可以輕松、無損地檢測材料近表面的缺陷，包括不同材料的粘接剝落、以及油漆、熱噴涂和涂層等。可以使傳統超聲檢測難以發現的內部缺陷（深度約1 mm）可視化。在涉及多種材料的研發過程中，它可以輕松檢測接頭和粘合表面的缺陷。
使用相機支架測試小型試樣
-將肉眼無法確認的裂縫、空隙、剝離等隱藏缺陷可視化-
★任何人都能快速、簡單的執行視覺表面檢查
島津獨有的光學成像技術：超聲波光探傷技術是通過激勵試樣表面，并以光學方式檢測表面位移，從而觀測超聲波在表面傳播情況的技術。
使用三腳架測試大型試樣
只需簡單的將超聲波振蕩器放置于樣品上，然后調整相機位置。
短時間內即可顯示超聲波的傳輸情況，并且從視頻中輕松識別缺陷。
軟件功能豐富、操作簡單，標記缺陷、測量尺寸等功能顯著增強。
該系列包括一個可選的光學變焦組，可以檢測較小的缺陷。
超聲波光學探傷可以使傳統超聲檢測難以發現的內部缺陷（深度約1 mm）可視化。在涉及多種材料的研發過程中，它可以輕松檢測接頭和粘合表面的缺陷，這些缺陷是由組合不同的材料來增加強度和減輕重量而產生的。
檢測結果界面
MIV-X 超聲波光探傷裝置由島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司為您提供，如您想了解更多關于MIV-X 超聲波光探傷裝置 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。
注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
