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工商注冊信息已核實!參考報價: | 面議 | 型號: | XRD-6100 |
品牌: | 島津 | 產地: | 日本 |
關注度: | 66 | 信息完整度: | |
樣本: | 典型用戶: | 暫無 |
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島津X射線衍射儀 型XRD-6100適用于性能評價項目,參考多項行業標準。可以檢測KCa2Nb3O10粉末樣品等樣品。可應用于電子/半導體行業領域。
光催化劑是一種利用光合作用的化學反應等特點的催化劑,主要用在凈化環境,自然凈化作用, 抗菌?殺菌等領域,最近,作為可再生能源的一部分,利用光催化劑進行人工光合作用正受到廣泛 關注。 光催化劑大致分為金屬氧化物或氮化物等半導體和釕和錸等貴金屬絡合物。本文以 KCa2Nb3O10為例進行說明。KCa2Nb3O10是由鈮酸鈣層與鉀離子層層重疊構成的一種高溫鈣鈦 礦型的離子交換體,是半導體光催化劑的一種。對半導體光催化劑的性能評價,有各種各樣分析評 價方法,這里,對具有4種不同合成條件的KCa2Nb3O10粉末,進行晶體結構(晶型評價)分析,晶 型評價是用多毛細管光學系統的X射線衍射進行的,采用紫外可見近紅外分光光度計進行吸收光譜 測試(吸收帶測試),進而再用顯微拉曼分光光度計進行成像測試。 Y
配備高精度垂直型測角儀,適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
XRD-6100具有本質穩定結構。
只有門連鎖機構閉鎖時,X射線管才能開啟,具備高穩定性。
配備高速運轉(1000°/min)及高精度角度重現性(±0.0001°)的垂直型測角儀,可進行各種樣品的測定。
驅動機構為獨立2軸驅動,可選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動,特別對薄膜測定行之有效。
備有豐富的附件(軟件/硬件)來滿足多種需要。
對應工業環境測定標準/工業環境評價標準修訂
X射線衍射儀XRD-6100 環境測定包
適合工業環境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。
對應工業環境測定標準 · 工業環境評價標準修訂
X射線衍射裝置XRD-6100 環境測定包
適于工業環境中的游離硅以及石棉的定性 · 定量分析。
在勞動安全衛生法中,關于因勞動者在工作中的暴露而對其造成健康損害的92種物質,規定必須實施其作業環境的測定。其中,粉塵中的游離硅以及石棉的定性·定量分析可以使用X射線衍射裝置。近日因相關法規的修訂,對有害物質的管理濃度、分析程序進行了修改。 本測定包配備了依據「基底標準吸收校正法」的樣品臺和定量軟件,這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6100對收集在濾紙上的工業環境測定中的游離硅、石棉進行定性分析需要的,在這些微量樣品的定量分析中也是必要的。
游離硅的定性·定量分析
工業環境測定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計算出的量。(從2005年4月1日開始實行)
E=3.0/(0.59Q+1) (參考)修訂前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理濃度mg/m3 Q:游離硅含有率(%)
所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。
游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中,首先規定使用X射線衍射裝置掌握含有什么種類的游離硅(定性分析),根據其定性結果,以使用磷酸法或X射線衍射裝置的基底標準吸收校正法進行定量。
下圖表示這些游離硅的衍射模式,分別具有各自的特征峰,因此,易于識別其種類。
物質的衍射X射線強度因受基底物質吸收的影響,需進行校正。為進行校正需求得基底物質的X射線吸收系數。可在一次的測定中將其完成的方法就是「基底標準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的專用定量分析軟件。
各種游離硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
關于石棉,在2005年7月實施了【石棉傷害預防規則】。適用此規則的建材等樣品,如果其石棉含量超過重量5%左右以上,則可使用X射線衍射裝置以標準添加法或內標添加法對采集來的樣品進行定量,但對于少于上述含量的樣品有時不能進行定量。
此時,作為只溶解樣品基底成分的前處理方法,實施甲酸前處理法,然后使用X射線衍射裝置以基底標準吸收校正法進行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中,也可使用配備有基底標準吸收校正法的環境測定樣品臺的X射線衍射裝置XRD-6100環境測定包。
各種石棉的衍射模式
石棉主要有蛇紋石類的纖蛇紋石,角閃石類的鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的特峰進征行定量分析。
技術參數:
●X射線發生部 3kW
●測角儀 θ ~2θ 聯動,θ 、2&θ 獨立
●動作范圍 2θ ;:-6度 ~ 163度
●數據處理部 Windows 7
主要特點:
采用高精度垂直測角儀,Windows 7作為軟件平臺,標準配備了多功能自動檢索/匹配軟件(定性分析)實現了多任務功能,操作簡便。性價比出色。另外,豐富的選配件滿足各種應用需求。
易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時代!
X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且,可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精細X射線結構解析等各種分析。
LabX XRD-6100
X射線衍射XRDXRD-6100X射線衍射儀 型 應用于電子/半導體信息由島津企業管理(中國)有限公司/島津(香港)有限公司為您提供,如您想了解更多關于X射線衍射XRDXRD-6100X射線衍射儀 型 應用于電子/半導體報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
注:該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關用途